当前位置：首 页 >> 产品展示

产品简介:

F42运用光学原理来测量OSP膜厚度(或透光膜厚度)，提供快速非破坏的检测，省去之前必须破坏产品且长时间才可以知道结果，F42能在产品镀膜完成後即时量测产品厚度，对於客户的厚度管控能更有效率。检测可在OSP镀层的生命周期的不同阶段进行，使用户可以通过监控OSP镀层形成和储藏过程中产生的不良变化对工艺进行必要的调整。例如，可以在PCB/PWB生命周期的不同阶段检测OSP镀层的厚度以预测在后续的工艺过程中由于OSP镀层的可焊性变化而对工艺产生的影响。 

适用行业:

PCB印刷电路板，OSP电镀厂。(測OSP膜厚)

LCD面板及OLED廠。(測可透光膜厚)

半導体製造廠。(測可透光膜厚)

产品特色:

●无损检测
●In-situ
●超小检测点
●二维图像分析功能
●FP分析方法
●Z轴机械可调
●自动对焦
●动态数据传输