鍍層厚度分析儀
MAXXI 6
- 產品類別：XRF膜厚檢測設備
- 主要功能：各種鍍層膜厚量測 應用產業：PCB產業 其它產業 塗鍍層產業 緊固件產業
- 生產廠商：日立高科
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產品簡介
根據X射線熒光（XRF）的鍍層厚度量測，是一種被廣泛接受和業界認可的分析技術，方便、快速的非破壞性分析。無需(或極少)的樣品前製，能夠廣泛分析固、液態原子序13(Al)~92(U)。 具有卓越的分辨率和高效率SDD的MAXXI 6是在測量痕量薄鍍層和元素組成的理想儀器。 -
主要特點
* 高精度微聚焦鈹窗口X射線管，測量時間短與高可靠性的現場驗證，卓越的產品壽命
和更低的擁有成本
* 採用極高分辨率矽漂移檢測器（SDD）使檢測極限（LOD）大幅增進
* 多準直器依照不同需求自由切換，提高測量效率
* 開槽式設計且具有極大的內部空間，非常適合標準和超大樣品
* 單一USB連接電腦，無需額外的硬體或固件
* 德國最高工程標準製造
* 堅固的硬體設計
* 由PTB（慕尼黑物理技術）批准，確保最高水平的輻射安全
* X射線熒光技術新進展，允許直接測量化學鍍鎳的鎳磷比例
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