失之毫米，差之千里。在這科技技術日新月異的當今，講求的是快速、精準、效率的生產，對此在新型X-Strata920 系列即時分析儀代表了日立高科（Hitachi High-Tech Analytical Science）鍍層厚度測量和材料成份分析技術的一次重大飛躍。軟體和硬體領域的新進步提高了我們X射線系列產品的性能。X-strata920 系列能夠測量極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、鍚等）和其它薄鍍層。印刷電路板和電子元件製造商以及金屬表面處理專業廠家也可以以我們測量鍍層厚度和成份的先進技術中獲益。 像我們所有的儀器一樣，這個系列的儀器也由日立高科集團提供技術支持。我們保證在售前和售後都提供卓越的服務。

X射線螢光光譜儀（分析儀），英文X-ray Fluorescence Spectrometer簡稱：XRF光譜儀，其技術應用廣泛應用於包含半導體產業、面板PCB製造業、電鍍加工業、塗層材料分析、螺絲五金、甚至於智能家居家電晶片、車用晶片、航太船運領域等。

X-Strata920分析儀除了可以提供標準、加深、電動檯面的選擇外，另外還可以依照客戶的需求，提供比例計數器及SDD兩種款式的檢測儀，確保擁有正確的配置。

Hitachi系列的X-Strata920分析儀提供給您兩款檢測使用領域

比例計數器檢測儀可檢測涵蓋：鋁(13)至鈾(92)

SDD檢測儀可檢測元素涵蓋：鈦(22)至鈾(92)