FT-230 XRF分析儀檢測

商品類別:原廠

FT-230 XRF射線螢光光譜儀SDD(分析儀) 主要適用於半導體業、電鍍業、精密科技業、智能科技研發、汽車工業、航天航太業、造船業等領域。 相較於傳統的比例計數器、矽PIN檢測器提供更好、更穩定、更準確的量測結果。

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XRF-FT-230電鍍塗層膜厚分析儀 日立Hitachi

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FT-230 XRF適合應用領域介紹

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hitachi_FT230 XRF膜厚量測儀

智能識別

FT-230標準配置新開發的智能零部件識別系統,可實現快速的分析設置。這功能將分析設置中最困難且容易出錯的部分自動化-自動為每個分析位置選擇正確的分析程

Find My Part 功能為量測零部件選擇正確的分析程式。讓XRF分析儀自動選擇量測位置和應用,並將結果和報告發送至指定目錄。這比手動過程更快,能減少操作人員出錯的機率,並使其有時間執行其他任務。

當你需要測量新的零部件時,可以很容易地將他們添加至儀器識別庫中。

XRF膜厚量測儀  FT-230 智能識別介面

自動對焦

為了最大限度地提高XRF分析儀的準確度和精確度,必須在X射線管、被測零部件和檢測器之間保持固定的距離。焦距的微小變化也會對結果的可靠性產生影響,X射線管距離樣品太近或是太遠會使得樣品測量的厚度結果過大或是過小。

FT-230已經完善儀器配置,為用戶提供兩種自動對焦選項:

自動接近自動對焦

工作距離固定時,使用自動接近功能是操作者的首選。只需要輕輕一點,儀器便會自動將分析移動至準確距離。
另一種模式為自由距離測量,選擇這種對焦方式後,即使測量距離發生變化,儀器可以獲得準確的結果。
此功能可以在分析過程中節省大量時間,尤其是在測量具有複雜幾何形狀的組件或高度不同的多個樣品時更能節省時間。
FT-230自動接近功能與自動對焦功能介紹


FT-230 XRF測量不同高度的零部件


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XRF-FT230產品規格介紹

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