XRF螢光光譜分析/鑫知識

文章四十八、回顧古今-X射線、X光譜學應用在科技產業的演變

405
次閱讀

X射線是由德國物理學家Wilhelm Rontgen在1895中發現的。 他稱未知的光源導致他的電影曝光“X射線”並用手的X射線圖像發表了他的發現。

現在已知X射線是電磁輻射的一種形式,其頻率高於紫外線但低於γ射線。大多數X射線具有0.01至10奈米的波長,如圖1所示,頻率從低到高佈置。

文章四十八、回顧古今-X射線、X光譜學應用在科技產業的演變

 

  X射線是由德國物理學家Wilhelm Rontgen在1895中發現的。 他稱未知的光源導致他的電影曝光“X射線”並用手的X射線圖像發表了他的發現。

現在已知X射線是電磁輻射的一種形式,其頻率高於紫外線但低於γ射線。大多數X射線具有0.01至10奈米的波長,如圖1所示,頻率從低到高佈置。

 

X光譜學應用在科技產業的應用

威廉·康拉德·倫琴在1901年獲得了第一個諾貝爾物理學獎。

  X射線也可以定義為粒子(Photon),並使用能量單位eV進行描述。能量單位和波長單位是可互換的。因此,X射 線既是波浪又是粒子。 這 是理解X射 線某些特性的重要概念。X射線可以由電子或另一帶電粒子的偏轉的軔致輻射產生。在X射線管內部,電子被加速到目標材料。衝擊後,電子的動能轉移到X射線和熱量中。

 

伴隨著科技的進步,XRF檢測儀器也開始配合市場的需求,進行升級與功能完善,使其可以檢測更小單位的樣品,並且維持穩定的測量成果(再現性)。達到有效品管與把關的功能。

  當今最主要的XRF系統可以概分為:兩種形式與三種準值器系統

 

鑫紳股份有限公司-XRF具備的款式與準直器種類

鑫紳股份有限公司-XRF比例計數器

 


 

推薦產品:

 

FT-230 XRF螢光光譜儀

 

XRF螢光光譜儀-FT-230

X-Strata 920 XRF螢光光譜儀

 

HITACHI-X-Strata920

文章四十八、回顧古今-X射線、X光譜學應用在科技產業的演變